GaN RF Device Characterization & Reliability Research

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Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione
Si assicuri di inviare la sua candidatura con tutte le informazioni richieste, come indicato nella panoramica del lavoro riportata di seguito.
- Università degli studi di Padova seeks a researcher to characterize GaN devices and develop related experimental setups.
Responsibilities include studying degradation processes in GaN devices and contributing to advanced semiconductor research within a university setting.

The appointment is part of a research initiative with eligibility for xysqume fellows under specified residence rules, offering an opportunity to work on cutting-edge GaN technology in a

#J-18808-Ljbffr

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